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| 內容簡介： |
纳米科学与技术是近年来在全球范围内广受重视的一门飞速发展的新兴学科，而纳米测量学与纳米材料学、纳米电子学、纳米生物学、纳米机械学和纳米光学一样，已经成为纳米科学与技术的重要研究方向之一。本书在总结作者科研工作的基础上，较全面地对纳米尺度线宽CD测量，纳米尺度边缘粗糙度LER测量，纳米尺度微力、杨氏模量和刚度测量以及微纳尺度固液界面边界条件测量进行了论述。书中多为作者多年从事纳米测量相关研究的科研成果、实践经验与心得体会。
本书对从事该领域研究工作的科研人员具有一定的借鉴意义。
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| 目錄：
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第1章 纳米尺度线宽（CD）测量
1.1 概述
1.1.1 纳米尺度线宽（CD）测量研究的应用背景
1.1.2 Nano1线宽测量国际比对项目
1.1.3 常用的线宽测量技术和方法简介
1.1.4 纳米线宽（CD）测量的研究现状
1.1.5 目前线宽测量工具存在的缺点与不足
1.2 原子力显微镜AFM及其在线宽测量中的应用
1.2.1 原子力显微镜概述
1.2.2 AFM在线宽测量中的应用
1.2.3 原子力显微镜的最新发展
1.3 线宽的测量模型与算法
1.3.1 基于最小二乘法原理的测量模型
1.3.2 基于最小二乘模型的测量结果分析
1.3.3 使用不同探针测量结果的比较
1.4 扫描图像数据的分析及误差修正
1.4.1 探针膨胀作用的消除
1.4.2 扫描图像的滤波去噪
1.4.3 样本倾斜位置的修正
1.5 线宽测量误差及不确定度分析
1.5.1 不确定度的估计与合成
1.5.2 线宽的计算及误差修正
1.5.3 线宽测量的不确定度分析
1.5.4 实验与不确定度值的估算
1.6 双图像拼接法的研究
1.6.1 双图像拼接法的提出
1.6.2 刚体的空间位置变换
1.6.3 扫描图像的匹配
1.6.4 图像的插值和拟合
1.6.5 实验与结果分析
参考文献
第2章 纳米尺度边缘粗糙度（LER）测量
2.1 概述
2.1.1 纳米尺度边缘粗糙度（LER）测量的研究背景
2.1.2 线边缘粗糙度的研究内容及其发展
2.1.3 线边缘粗糙度测量技术的研究现状
2.1.4 线边缘粗糙度测量的关键问题分析
2.2 线边缘粗糙度的定义及其表征参数的研究
2.2.1 线边缘粗糙度测量的需求分析
2.2.2 线边缘粗糙度的定义研究
2.2.3 线边缘粗糙度的表征参数
2.3 基于AFM的线边缘粗糙度测量模型
2.3.1 测量样本与测量条件
2.3.2 线边缘粗糙度测量模型的建立
2.3.3 测量结果与分析
2.4 线边缘粗糙度的多尺度表征方法研究
2.4.1 线边缘粗糙度特性分析
2.4.2 基于冗余第二代小波变换的LER多尺度表征
2.4.3 随机轮廓仿真与分析
2.4.4 测量结果与分析
2.5 AFM测量线边缘粗糙度影响因素的研究
2.5.1 探针对扫描图像的影响
2.5.2 AFM扫描图像噪声的影响
2.5.3 压电晶体驱动精度的影响
2.5.4 扫描采样间隔的影响
参考文献
第3章 纳米尺度微力、杨氏模量和刚度测量
3.1 概述
3.1.1 纳米尺度力学量测量的研究意义和背景
3.1.2 AFM在纳米尺度力学测量中的应用状况
3.1.3 微悬臂梁制造与应用状况
3.1.4 微悬臂梁刚度测量的研究现状
3.2 微悬臂梁频率响应特性研究
3.2.1 微悬臂梁振动分析
3.2.2 基于有限元法的微悬臂梁频率响应特性仿真
3.2.3 杨氏模量与离面弯曲固有频率关系模型
3.3 流体环境对微悬臂梁频率响应影响研究
3.3.1 简化分析法
……
第4章 微纳尺度固液界面边界条件测量
附录 作者发表的与本书相关的文章目录
术语索引
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