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| 內容簡介： |
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本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发，系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括：数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试，以及可测性设计案例及分析。本书将理论与实践相融合，深入浅出地进行理论讲解，并辅以实例解析，帮助读者从入门级别的理解到信手拈来的精通，实现从理论知识到工程应用的有效过渡。本书可作为高等院校集成电路设计与集成系统等专业的教材，也可供集成电路及相关行业的工程技术人员参考。
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| 關於作者： |
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张晓旭，大连东软信息学院教师。曾任职于松下电器软件开发（大连）有限公司，担任半导体开发部门工程师，主要负责集成电路设计、验证、测试等工作。2016年9月至今，任职于大连东软信息学院，担任集成电路设计与集成系统专业教师。参与省级纵向项目2项，市级纵向项目1项。参与横向项目10项。参与发明专利1项，实用新型专利1项。指导学生参与专业竞赛，多次获得省三以上奖励，获全国大学生集成电路创新创业大赛一等奖。
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| 目錄：
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第1章 绪论 001
1.1 电路测试的意义 001
1.2 电路测试的分类及基本方法 005
1.2.1 电路测试分类 005
1.2.2 电路测试基本方法 007
1.3 自动测试设备 009
习题 010
第2章 数字集成电路测试基础 011
2.1 缺陷、错误和故障 011
2.1.1 缺陷、错误 011
2.1.2 故障 012
2.1.3 常用故障模型 013
2.1.4 单固定故障 014
2.2 单固定故障精简 018
2.2.1 故障等效 018
2.2.2 故障支配 020
2.2.3 最小故障集精简 021
2.2.4 测试向量生成举例 023
2.3 多固定故障 024
2.4 故障淹没 024
习题 025
第3章 测试向量生成 027
3.1 自动测试向量生成 027
3.1.1 布尔差分法 028
3.1.2 路径敏化法 030
3.2 随机测试向量生成 036
3.2.1 纯随机测试向量生成 036
3.2.2 伪随机测试向量生成 037
3.3 模拟 042
3.3.1 验证、模拟与仿真 042
3.3.2 逻辑模拟 044
3.3.3 故障模拟 045
3.4 实例 050
3.4.1 自动测试向量生成EDA工具 050
3.4.2 自动测试向量生成实例 052
3.4.3 逻辑模拟与故障模拟实例 068
3.4.4 伪随机测试向量生成电路实例 073
3.4.5 TetraMAX工具脚本 075
习题 075
第4章 可测性设计与扫描测试 078
4.1 可测性设计分析 078
4.1.1 可测性分析 078
4.1.2 电路测试问题 079
4.2 扫描测试设计 083
4.3 全扫描设计 088
4.3.1 扫描路径测试 088
4.3.2 扫描测试计算 089
4.3.3 扫描测试举例 091
4.4 基于EDA工具的扫描设计 092
4.5 实例 094
4.5.1 扫描链插入EDA工具 094
4.5.2 扫描链插入实例 095
4.5.3 DFT Compiler工具脚本 101
习题 102
第5章 边界扫描测试 104
5.1 边界扫描基础 104
5.2 边界扫描结构 105
5.2.1 测试访问端口 108
5.2.2 数据寄存器 109
5.2.3 指令寄存器 112
5.2.4 指令 113
5.2.5 TAP控制器及操作 116
5.2.6 边界扫描链结构 122
5.3 边界扫描描述语言 123
5.4 实例 132
5.4.1 TAP控制器的硬件描述 132
5.4.2 累加器的边界扫描描述 135
习题 138
第6章 内建自测试 139
6.1 内建自测试概念 139
6.1.1 内建自测试类型 142
6.1.2 内建自测试向量生成 143
6.2 响应数据分析 143
6.2.1 数“1”法 144
6.2.2 跳变计数法 144
6.2.3 奇偶校验法 144
6.2.4 签名分析法 145
6.3 内建自测试结构 149
6.3.1 按时钟测试BIST系统 149
6.3.2 按扫描测试BIST系统 150
6.3.3 循环BIST系统 150
6.3.4 内建逻辑块观察器 150
6.3.5 随机测试块 152
6.4 实例 153
6.4.1 内建自测试电路设计 153
6.4.2 多输入签名分析电路设计 157
习题 158
第7章 存储器测试 161
7.1 存储器结构 161
7.2 存储器故障模型 163
7.3 存储器测试算法 165
7.3.1 MSCAN测试算法 166
7.3.2 GALPAT测试算法 166
7.3.3 其他测试算法 167
7.4 存储器测试方法 173
7.4.1 存储器直接存取测试 173
7.4.2 存储器内建自测试 173
7.4.3 宏测试 175
7.5 存储器修复 176
7.6 实例 176
习题 186
参考文献 190
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| 內容試閱：
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集成电路已经成为国家战略层面的基础性和先导性产业，是最受关注的高科技产业之一。测试是集成电路产业链中重要的一环，贯穿于从产品设计开始到完成加工的全过程。设计过程中，集成电路的可测试性设计技术成为非常关键的因素，不具备可测试性的设计如同纸上谈兵，将无法实现最终的量产。近年来，随着集成电路设计和制造工艺的发展，集成电路的集成度不断增高，集成电路的测试挑战度也在不断提升。而国内关于集成电路测试的书籍较少，尤其是实践应用类的更是凤毛麟角。基于此，我们编写了本书。
本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发，系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。各章先讲解测试的理论知识，再通过实例解析，阐述测试技术在实际电路中的应用。
第1章绪论，以电路测试的意义为切入点，介绍了集成电路测试的重要性、数字集成电路测试的分类、目前数字集成电路测试中遇到的问题以及基本测试方法，为后续内容做铺垫。
第2章数字集成电路测试基础，主要介绍数字集成电路测试过程中容易混淆的三大概念——缺陷、错误与故障。重点介绍了单固定故障。基于单固定故障，针对二选一数据选择器电路，通过真值表推导的方式，分析指定故障的测试向量。通过规律总结，引出故障等效定理、故障支配定理，运用两大定理，解决最小故障集精简问题，提高测试效率。讲解了多固定故障以及故障淹没的概念。
第3章测试向量生成，主要介绍了自动测试向量生成的几种方法，包括布尔差分法、路径敏化法等，针对路径敏化法，采用多个案例，帮助读者梳理思路，掌握路径敏化法的应用。随后又介绍了随机测试向量生成技术，重点介绍应用较广的伪随机测试向量生成技术，依然采用案例方式辅助读者消化吸收。本章还介绍了模拟的方法，通过逻辑模拟可确认功能正确性，通过故障模拟可确认电路的测试向量集。阐述了业界流行的测试向量集确定方法。
第4章可测性设计与扫描测试，主要介绍了可测性分析方法与时序电路测试中存在的问题。针对时序电路测试中可控制性差、可观测性差的问题，提出了扫描测试设计的方法。通过案例，详细介绍扫描路径如何设计、如何应用以及扫描测试中关于存储空间和测试时间的计算问题。讲解了使用EDA（电子设计自动化）工具进行扫描设计的流程。
第5章边界扫描测试，主要介绍了边界扫描基础及其结构，从访问测试端口、数据寄存器、指令寄存器、指令、TAP（测试存取通道）控制器及其操作、边界扫描链结构等方面，介绍边界扫描技术的应用，将扫描设计的方法从模块级扩展至芯片级、PCB（印制电路板）级和系统级。
第6章内建自测试，主要介绍了内建自测试的概念及类型，以及如何使用LFSR （线性反馈移位寄存器）电路自动生成测试向量。针对电路输出响应分析，可采用数“1”法、跳变计数法、奇偶校验法、签名分析法等方式对输出响应进行压缩，生成电路特征符号。讲解了不同类型的内建自测试结构。
第7章存储器测试，主要介绍了存储器的结构及故障模型。介绍了多种存储器测试算法，通过MATS 、MATS和March Y的案例讲解，帮助读者理解存储器测试算法的内容以及可测试故障。总结了存储器测试的电路结构与故障修复方法。
目前描述逻辑元件的主流符号包括形状特征型符号（ANSI / IEEE Std 91-1984）以及IEC矩形国标符号（IEC 60617-12）。因IEEE形状特征型符号为行业内惯用符号，因此书中沿用IEEE形状特征型符号描述逻辑元件。读者如需映射到国标符号，请参考下表。
本书将理论与实践相融合，深入浅出地进行讲解，并辅以实例解析，帮助读者从入门级别的理解到信手拈来的精通，实现从理论知识到工程应用的有效过渡。本书可以作为数字集成电路测试与可测性设计的入门书籍，也可以作为高校相关专业学生的教材。
本书由张晓旭、张永锋、山丹编著，特别感谢杭州士兰集成电路有限公司提供了行业前沿发展情况和应用实例。
由于笔者水平所限，书中不足之处在所难免，敬请广大读者批评指正。
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