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| 編輯推薦： |
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作者团队长期从事电子产品超大规模、高密度集成电路可测性设计与智能故障诊断研究；完成多项各级重点项目及科技攻关，发表过众多专利及相关科技文献。本书的目的是通过可测行设计与智能故障诊断理论的应用，提高集成电路及电子产品的质量及检测水平。本书以实用性为目标，将人工智能和现代信号处理等理论应用于故障诊断及可测行设计，以提高电路的可测试及故障诊断的水平、效率和准确性‘’理论和工程实践相结合，实用性强，并溶入了很多新技术和相关科研成果。
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| 內容簡介： |
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本书主要从理论和应用方法两个方面对可测性设计与智能故障诊断进行研究，全书共9章，分别介绍了可测性设计和故障诊断的发展，基于沃尔泰拉核的非线性电路智能诊断以及测试激励优化和特征选择与提取，基于维纳核的非线性模拟电路故障诊断，模拟电路智能故障诊断系统设计，MIMO非线性系统的建模及故障诊断，基于信息融合技术的电路故障诊断，数字电路的可测性设计，以及混合电路的可测性设计。各章还给出了电路的参数建模和非参数建模的方法，并提供了范例，以期协助读者解决非线性电路故障诊断问题，提高诊断的准确率和效率。本书适合从事虚拟仪器、电路设计，特别是从事集成电路故障诊断和可测性设计的研究人员阅读参考。
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| 關於作者： |
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作者林海军，主要研究方向是微弱信号检测、自动测试、自动控制、故障诊断；曾参加和主持完成国家“七五”“八五”“九五”重点科技攻关项目，主持国家自然基金面上项目、国家863重大专项专题研究，以及黑龙江省自然基金、省攻关等30余项重要项目；荣获省部级科技进步一、二、三等奖，国家“九五”攻关先进个人及仪器仪表学会科技成果将等奖励；拥有国家发明专利和实用新型专利各12项；在国内外核心期刊发表论文30余篇。
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| 目錄：
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前言第1章绪论1.1可测性设计的起源与发展1.2可测性设计的相关标准及方法1.2.1可测性设计的相关标准1.2.2可测性设计的方法1.3电路的故障与诊断1.3.1电路故障的分类1.3.2数字电路的故障诊断方法1.3.3模拟电路的故障诊断方法1.4电路故障诊断的研究状况与发展趋势1.4.1国外电路故障诊断的研究状况1.4.2我国电路故障诊断的研究状况1.4.3电路故障诊断发展趋势第2章基于沃尔泰拉核的非线性电路智能诊断2.1引言2.2非线性模拟电路沃尔泰拉级数描述2.3非线性模拟电路离散沃尔泰拉核的测量2.3.1连续系统沃尔泰拉核的获取2.3.2离散系统频域模型2.3.3频域分离技术和测试频率选择2.3.4快速多点法频域核的测量2.4基于沃尔泰拉核及神经网络的智能故障诊断2.4.1基于沃尔泰拉核的智能诊断原理及步骤2.4.2标准BP算法的基本原理2.4.3BP算法神经网络设计2.5本章小结第3章基于沃尔泰拉核诊断的测试激励优化及特征选择与提取3.1引言3.2退火遗传混合优化算法研究3.2.1遗传算法的抗早熟改进3.2.2模拟退火算法的收敛速度改进3.2.3改进的退火遗传混合优化算法（MSAGA）3.3退火遗传混合测试激励优化方法3.3.1退火遗传混合激励优化流程3.3.2目标函数的构造3.3.3降温策略3.3.4测试激励优化实例3.4故障特征的智能选择与提取方法研究3.4.1退火遗传特征选择方法3.4.2退火遗传特征提取方法3.4.3基于退火遗传的沃尔泰拉核特征选择和提取3.4.4沃尔泰拉核的退火遗传特征选择实例3.5本章小结第4章基于维纳核的非线性模拟电路故障诊断4.1引言4.2非线性模拟电路的维纳级数描述4.3维纳核的获取4.3.1离散维纳核的获取方法4.3.2维纳核的间接获取方法研究4.4维纳核的退火遗传特征选择和提取方法4.4.1基于MSAGA的维纳核的特征选择和提取方法4.4.2维纳核的退火遗传特征选择实例4.5基于维纳核及神经网络的故障诊断研究4.6诊断实例4.7本章小结第5章模拟电路智能故障诊断系统设计5.1引言5.2模拟电路智能故障诊断系统原理及总体结构5.2.1系统的原理5.2.2系统的总体结构5.3智能诊断系统设计5.3.1示波器功能单元设计5.3.2高斯白噪声发生单元设计5.3.3信源/采集器单元设计5.3.4智能诊断系统软件设计5.4非线性电路智能故障诊断系统诊断实例5.5本章小结第6章MIMO非线性系统的建模及故障诊断6.1引言6.2MIMO非线性电路的沃尔泰拉核建模6.2.1MIMO的沃尔泰拉级数描述6.2.2MIMO非线性模拟电路GFRF的参数辨识6.2.3MIMO非线性模拟电路GFRF的非参数辨识6.3基于整体退火遗传的特征提取6.3.1整体退火遗传算法6.3.2基于WAGA的特征提取6.4乘法电路的建模与故障特征提取6.4.1乘法电路简介6.4.2四象限乘法器的非参数建模及特征提取6.5本章小结第7章基于信息融合技术的电路故障诊断7.1引言7.2信息融合技术的起源与发展7.3信息融合层次分类及过程7.3.1依据抽象程度的信息融合层次分类7.3.2依据I/O特征的信息融合层次分类7.3.3信息融合的过程7.4信息融合方法7.4.1贝叶斯估计法7.4.2卡尔曼滤波法7.4.3证据组合法7.4.4概率统计方法7.4.5D-S证据推理方法7.4.6人工神经网络法7.5基于信息融合的电路故障诊断方法7.6非线性模拟电路多软故障的信息融合诊断7.6.1基于双维纳核信息融合的智能故障诊断7.6.2维纳核的获取7.6.3双核特征的智能优化融合选择提取7.6.4神经网络设计和训练7.6.5故障诊断实例7.7本章小结第8章数字电路的可测性设计8.1可测性设计研究背景8.2数字电路可测性设计方法8.2.1全扫描技术8.2.2部分扫描技术8.3边界扫描8.3.1边界扫描技术原理8.3.2TAP控制器8.3.3测试数据寄存器8.3.4指令寄存器和边界扫描测试指令集8.3.5边界扫描描述语言8.3.6边界扫描测试的总线配置方式8.3.7数字电路的边界扫描测试设计方法8.4数字电路边界扫描系统示例8.4.1边界扫描系统的JTAG控制器开发8.4.2互联测试和功能测试8.5本章小结第9章混合电路的可测性设计9.1IEEE 1149.4标准要点剖析9.1.1混合电路边界扫描的基本原理9.1.2元件的基本结构9.1.3模拟边界模块9.1.4测试总线接口电路（TBIC）9.1.5模拟边界扫描指令剖析9.2混合边界扫描主要的测试形式9.2.1完备性测试9.2.2功能测试9.2.3互连测试9.2.4簇测试9.3混合边界扫描测试系统设计9.3.1混合边界扫描测试系统的总体结构9.3.2混合边界扫描测试系统的设计简介9.3.3混合边界扫描测试的工作过程9.4基于边界扫描的模拟电路板级可测性设计9.4.1STA400内核工作原理简介9.4.2STA400在模拟电路可测性设计中的应用9.5本章小结参考文献
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| 內容試閱：
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前言 随着电子产品使用环境越来越严酷，电路的复杂程度越来越高，集成电路制造工艺水平日益提高、特征尺寸日益缩小，使电路的可控性和可观测性降低，电路故障诊断的难度也日益加大，从而影响了大规模集成电路和包含电子电路的仪器设备的可靠性和安全性。为保证现代设备的安全和可靠运行，需要采用先进的可测性设计和故障诊断方法。通过高精度和高覆盖率的测试，及时掌握集成电路或设备的技术指标；通过准确的故障诊断，及时地对集成电路或设备所处状态做出判断，争取做到预防和消除故障，提高其运行的可靠性。在超大规模、高密度集成电路高速发展的今天，可测试性（本书简称为可测性）设计与智能故障诊断的应用越来越广泛，也越来越重要。因此，这就更需要与时俱进，不断融入新理论、新技术、新方法，以满足日益增长的测试与诊断需要。本书主要从理论和应用方法两个方面对可测性设计与智能故障诊断进行研究：可测性设计部分给出了一些设计方法和技巧；故障诊断理论部分则融入非线性泛函、信息融合和人工智能等知识和方法，以期解决非线性电路的多、软故障诊断，提高诊断的准确率和效率。本书还针对MIMO非线性模拟电路故障诊断的难点问题进行了探讨，如第6章对MIMO非线性模拟电路的沃尔泰拉核建模、智能特征提取及故障诊断理论和方法进行了研究，给出了电路的参数建模和非参数建模的方法，并提供范例。作者专注智能故障诊断和可测性设计方向的研究18年，主持完成的相关项目有国家自然基金、省自然基金（2项）及市科技攻关、市科技成果转化及中小企业创新基金等，参加完成导师张礼勇教授主持的相关省攻关和市攻关项目等。本书对包括上述项目成果在内的长期研究积累进行了梳理，总结了项目的主要理论和技术成果。本书第8章和第9章可测性设计部分采纳了课题组成员哈尔滨工业大学刘思久教授带领研究生郑春平等研发的边界扫描系统设计案例，以阐明测试系统的设计思路和方法。在此向他们表示衷心的感谢！本书还借鉴了同行专家们的很多研究成果，以使本书内容更加系统、完整。在此谨向杨士元教授、陈光教授、何怡刚教授等专家们表示衷心的感谢！同时，也向为本书编撰提供帮助的吴海滨院长、张旭辉教授、刘煜坤教授等表示衷心的感谢！还要感谢彭旺林、刘雨、吴伦慧、刘国建等研究生为本书撰写提供的帮助！更要感谢国家科学技术学术著作出版基金的资助！本书的出版还得到了机械工业出版社领导和编辑老师们的大力支持和帮助，在此深表感谢！作者希望通过本书抛砖引玉，为该领域理论和技术的发展提供思路和一点点帮助。由于水平和时间有限，疏漏和不足之处在所难免，希望同行专家不吝赐教，批评指正。谢谢！作者于哈尔滨理工大学
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