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| 內容簡介： |
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本书从测量的角度出发，全面阐述了电源对系统的影响。作者在第1-3章介绍了测量基础、测量原理以及测试基本常识，比如灵敏度、本底噪声、动态范围、均值以及衰减器和前置放大器的使用，围绕各种测量域如频域、时域、增益、相位以及S参数等展开；第4章以实例介绍了如何使用测试设备测量电源完整性；第5章介绍了各种探头；第6章则围绕电源的分布网络展开；第8-15章介绍了特殊的电源完整性测量方法。
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| 目錄：
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目录译者序致谢第1章 引言11.1 你将从本书学到什么11.2 谁将从本书受益21.3 本书的通用版式21.3.1 为什么测量21.3.2 获得或验证数据21.3.3 设计、选择、优化41.3.4 故障诊断41.3.5 确认或验证51.3.6 术语6第2章 测量艺术72.1 无损的原因72.2 不影响结果的测量72.3 验证测试装置和测量限制82.4 以高效和直接方式测量92.4.1 非侵入式测量与侵入式测量92.4.2 在线测量92.4.3 间接测量与直接测量102.5 测量的完整归档102.5.1 测试工程师的名字和联系方式102.5.2 测试的目的112.5.3 仿真或预测的结果是否可用122.5.4 测试日期和物理位置132.5.5 运行测试的环境和条件132.5.6 每种测试设备的名称（包括探头）和校准周期132.5.7 装置的框图或图片132.5.8 测量注释和说明142.5.9 任何观测到的异常142.5.10 结果和任何后续工作的总结14第3章 测量基本原理153.1 灵敏度153.2 本底噪声163.3 动态范围173.4 噪声密度203.5 信号平均233.6 标度253.7 衰减器273.8 前置放大器283.9 测量域303.9.1 频域303.9.2 增益和相位303.9.3 S参数303.9.4 阻抗313.9.5 时域313.9.6 频谱域333.9.7 测量域的比较343.10 尾注36第4章 测试设备374.1 频率响应分析仪和矢量网络分析仪384.1.1 Omicron Lab Bode 100384.1.2 Agilent E5061B394.2 示波器394.2.1 Teledyne Lecroy Waverunner 6 Zi394.2.2 Rohde & Schwarz RTO1044404.2.3 Tektronix DPO7000414.2.4 Tektronix DPO72004B414.2.5 Teledyne Lecroy Wavemaster 8 Zi414.2.6 Tektronix MSO5204424.2.7 Teledyne Lecroy HDO6104434.2.8 Tektronix MDO4104-6444.2.9 Omicron Lab ISAQ 100444.3 频谱分析仪454.3.1 Tektronix RSA5106A454.3.2 Agilent N9020A464.3.3 Agilent E5052B464.4 信号发生器474.5 TDRTDT S参数分析仪484.5.1 Picotest G5100A484.5.2 Tektronix DSA830080E10484.5.3 Teledyne Lecroy SPARQ 4012E504.5.4 Agilent E5071C50第5章 探头、注入器和互连525.1 电压探头525.1.1 探头电路相互影响535.1.2 探头响应平坦化555.1.3 测量确认565.1.4 选择电压探头575.1.5 无源探头585.1.6 有源探头595.1.7 差分探头605.1.8 特殊探头605.1.9 其他连接685.2 尾注68第6章 分布式系统696.1 电源稳压器的噪声路径706.1.1 内部噪声706.1.2 电源抑制比726.1.3 输出阻抗746.1.4 反向传输和串扰746.2 控制环路的稳定性756.2.1 对输出阻抗的影响766.2.2 对噪声的影响766.2.3 对电源抑制比的影响776.2.4 对反向传输的影响776.3 差的稳定性如何传入系统786.4 尾注82第7章 阻抗测量837.1 选择一种测量方法837.1.1 单端口测量法837.1.2 两端口测量法947.1.3 电流注入器测量1077.1.4 阻抗适配器1087.2 尾注113第8章 测量稳定性1158.1 稳定性及其必要性1158.1.1 控制环基础知识1158.1.2 增益裕量、相位裕量、延时裕量以及稳定性裕量1168.1.3 伯德图和奈奎斯特图1178.1.4 开环测量1218.1.5 注入设备1228.1.6 探头1248.1.7 闭环测量1298.1.8 上电和断电测量1298.1.9 正向测量1308.1.10 小环路增益1308.1.11 非侵入式闭环测量1338.2 尾注136第9章 PSRR测量1379.1 测量方法1379.1.1 在线或离线测量1379.1.2 直接或间接测量1389.2 输入调制1389.2.1 线路注入器1399.2.2 电流注入器1429.2.3 DC放大器1439.3 选择测量域1439.3.1 矢量网络分析仪1439.3.2 频谱分析仪1439.3.3 示波器1449.3.4 探头和灵敏度1449.4 尾注150第10章 反向传输和串扰15110.1 不同拓扑结构的反向传输15110.1.1 串联线性稳压器15110.1.2 并联稳压器15210.1.3 POL稳压器15310.1.4 运算放大器15310.2 调制输出电流15310.2.1 电流注入器15410.2.2 DC偏置注入器15410.3 测量输入电流15410.4 测量输入电压15610.5 间接测量15710.6 尾注162第11章 阶跃负载响应测量16311.1 瞬态的产生16311.1.1 电流注入器和电子负载16311.1.2 斜率16411.1.3 电流调制波形16611.2 测量响应16711.2.1 大信号与小信号16811.2.2 注意平均16811.2.3 采样率和时间刻度17011.3 尾注175第12章 测量纹波和噪声17612.1 选择一种测量方法17612.1.1 系统内测量与系统外测量17712.1.2 直接测量与间接测量17712.1.3 时域测量与频域测量17712.2 互连设备17712.2.1 示波器无源探头17812.2.2 示波器有源探头17812.2.3 直接使用50 端接17812.3 选择设备17912.4 平均模式和滤波19212.5 尾注193第13章 边沿测量19413.1 带宽与上升时间19413.1.1 上升时间的级联19713.1.2 工作带宽与滤波器的影响20013.2 采样率与交错采样20213.3 内插20313.4 同轴电缆20413.5 探头连接的重要性20613.6 PCB因素20813.7 探头20813.8 尾注212第14章 用近场探头排除故障21314.1 电磁辐射基本理论21314.2 近场探头21414.3 探头和方位21514.4 测量仪器21714.5 频谱门限21714.6 尾注229第15章 高频阻抗测量23015.1 时域23015.2 校准23115.3 参考面23215.4 设置TDR脉冲上升时间23515.5 TDR测量结果的分析23715.6 评估电感和电容24015.7 S参数测量24515.8 尾注247
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