新書推薦：
《
像欧奈尔信徒一样交易：我们如何在股市赚得18000%的利润
》
售價：NT$
458.0
《
战败者：1917—1923年欧洲的革命与暴力（方尖碑）
》
售價：NT$
510.0
《
成唯识论直解（修订本）（全二册）
》
售價：NT$
874.0
《
我国政府对在华境外非政府组织分类管理研究
》
售價：NT$
510.0
《
奔月
》
售價：NT$
415.0
《
基于量子计算的量子密码协议
》
售價：NT$
416.0
《
世界民族纺织图案视觉交汇
》
售價：NT$
666.0
《
中国近代史（中国近代史开山之作，史学大家的经典，精心校订新版本）
》
售價：NT$
198.0
|
| 編輯推薦： |
|
《数字射线检测技术》一书第1版出版后，受到了工业无损检测技术界的广泛关注。本书第2版以编写成适宜作为工业应用的数字射线检测技术培训教材为目标，以构成解决实际检测问题的检测技术系统为内在线索，重新组织第1版的内容，简化、改写了一些理论性内容，补充了大量实际技术处理内容，编写了相关标准内容介绍、实验与复习参考题。本书适合作为数字射线检测Ⅱ、Ⅲ级人员的培训
|
| 內容簡介： |
|
本书针对已掌握了常规射线检测技术的人员，提供系统性的工业应用数字射线检测技术基础知识，包括射线检测技术的物理基础，数字射线检测的设备、基本理论、基本技术，等价性问题，技术标准介绍等大量实际技术处理内容，并精心设计了实验项目和复习参考题。附录中深入介绍了与数字射线检测技术相关的辐射探测器、采样定理和成像过程基本理论，并给出部分复习参考题的答案。
|
| 目錄：
|
目录：
（说明：标志“*”的章、节、段是为Ⅲ级人员编写的内容，对Ⅱ级人员不做要求。）
前言
第1章 射线检测技术的物理基础1
1.1 射线概念1
1.1.1 射线分类1
1.1.2 X射线2
1.1.3 γ射线6
1.2 射线与物质的相互作用8
1.2.1 光电效应8
1.2.2 康普顿效应10
1.2.3 电子对效应10
1.2.4 瑞利散射11
1.3 射线衰减规律12
1.3.1 基本概念12
1.3.2 单色窄束射线的衰减规律13
1.3.3 宽束连续谱射线的衰减规律14
1.4 射线检测技术的基本原理17
复习参考题19
第2章 辐射探测器与其他器件22
2.1 辐射探测器概述22
2.1.1 辐射探测器分类22
2.1.2 辐射探测器主要性能24
2.1.3 辐射探测器基本性能25
2.2 直接数字化射线检测技术的辐射探测器26
2.2.1 概述26
2.2.2 非晶硅辐射探测器27
2.2.3 非晶硒辐射探测器28
2.2.4 CCD与CMOS辐射探测器28
*2.2.5 分立辐射探测器（DDA）的响应校正和坏像素修正29
*2.2.6 分立辐射探测器（DDA）的性能特点31
2.3 间接数字化射线检测技术的辐射探测器32
2.3.1 成像板（IP板）32
2.3.2 图像增强器35
*2.3.3 IP板系统性能特点36
2.4 AD转换器37
2.5 射线检测的像质计与线对卡39
2.5.1 像质计概述39
2.5.2 常规像质计39
2.5.3 双丝型像质计43
2.5.4 线对卡45
复习参考题47
第3章 数字射线检测技术基本理论50
3.1 数字图像概念50
3.2 图像数字化基本理论 52
3.2.1 图像数字化过程52
3.2.2 采样定理54
3.2.3 量化方法55
3.3 数字射线检测图像质量56
3.3.1 图像对比度56
3.3.2 图像空间分辨率58
*3.3.3 图像信噪比SNR62
*3.4 细节（缺陷）分辨能力65
复习参考题67
第4章 数字射线检测基本技术70
4.1 概述70
4.2 探测器系统选择71
4.2.1 概述71
4.2.2 探测器系统选择的基本依据72
*4.2.3 基本空间分辨率选择73
*4.2.4 规格化信噪比选择74
4.3 数字射线检测透照技术控制74
4.3.1 概述74
4.3.2 最佳放大倍数76
*4.3.3 曝光曲线78
*4.3.4 动态检测方式技术控制82
4.4 数字射线检测其他技术控制87
4.4.1 图像数字化技术控制87
4.4.2 图像显示与观察条件89
4.4.3 数字图像处理技术91
4.4.4 缺陷识别与质量级别评定95
*4.4.5 尺寸测量96
*4.4.6 厚度测定101
4.5 数字射线检测图像质量控制106
4.5.1 检测图像质量指标控制106
*4.5.2 图像质量的补偿原则104
*4.6 数字射线检测技术级别近似设计105
*4.6.1 概述105
*4.6.2 检测图像常规像质计指标设计106
*4.6.3 检测图像不清晰度（空间分辨率）指标设计107
*4.6.4 例题110
*4.7 数字射线检测技术稳定性控制112
*4.7.1 概述112
*4.7.2 检验工艺文件（检验程序文件）112
*4.7.3 检测系统性能的长期稳定性试验控制113
*4.7.4 检验工艺卡编制114
复习参考题116
第5章 工业常用数字射线检测系统119
5.1 概述119
5.2 分立辐射探测器（DDA）数字射线检测系统120
5.2.1 检测系统组成120
5.2.2 DDA检测系统的技术控制123
5.2.3 DDA检测系统应用特点125
5.3 IP板间接数字化射线检测系统——CR系统126
5.3.1 检测系统组成与技术基本过程126
5.3.2 CR系统的技术与应用特点128
5.4 图像增强器间接数字化射线检测系统130
5.4.1 图像增强器检测系统组成 130
5.4.2 图像增强器检测系统的技术与应用特点131
*5.5 微焦点数字化射线检测系统132
*5.6 底片图像数字化扫描技术135
*5.6.1 扫描仪概述135
*5.6.2 扫描仪的基本性能指标136
*5.6.3 扫描技术137
*5.6.4 扫描仪选用139
复习参考题141
*第6章 等价性问题讨论144
*6.1 概述144
*6.2 等价指标问题分析145
*6.3 等价技术级别评定146
*6.3.1 概述146
*6.3.2 被检验工件基本分析147
*6.3.3 数字射线检测系统基本性能测定评定149
*6.3.4 数字射线检测系统检验试验150
*6.3.5 等价技术级别评定方法152
*6.3.6 例题152
*6.4 等价范围问题的理论处理方法157
*6.4.1 概述157
*6.4.2 两种射线检测技术系统概括157
*6.4.3 等价范围问题解答的基本理论158
*6.4.4 矩形函数近似线扩散函数的近似处理160
复习参考题162
第7章 数字射线检测技术标准介绍163
7.1 国外数字射线检测技术标准编制概况163
*7.2 ASTM E25972007标准关于DDA基本性能测定的规定164
*7.2.1 DDA基本空间分辨率测定规定161
*7.2.2 DDA规格化信噪比测定规定166
*7.3 ASTM E273710标准关于DDA基本性能测定的规定168
*7.3.1 DDA系统性能测定试验的总要求168
*7.3.2 试件169
*7.3.3 双厚（度）板与单独像质计的测定试验规定169
*7.4 ASTM E2446—2005标准关于IP板系统基本性能测定规定170
*7.4.1 IP板系统基本空间分辨力测定171
*7.4.2 IP板系统规格化信噪比测量171
*7.5 ASTM E244510标准关于IP板系统基本性能测定的规定172
*7.5.1 试验要求173
*7.5.2 IP板系统基本空间分辨率测定试验13
*7.5.3 IP板系统规格化信噪比测定试验174
7.6 ISO 176362:2013标准简要介绍174
7.6.1 ISO 176362:2013标准概况174
7.6.2 标准规定内容的基本结构175
7.6.3 标准主要规定内容175
*7.6.4 对标准等价性说明的简单分析178
复习参考题180
第8章 数字检测技术实验182
8.1 辐射探测器系统基本性能测定实验182
实验1 DDA辐射探测器基本空间分辨率与MTF测定182
实验2 DDA辐射探测器规格化（标准、归一）信噪比测定185
8.2 辐射探测器系统性能对缺陷检验的影响182
实验3 DDA辐射探测器像素尺寸对缺陷检验的影响187
实验4 IP板扫描读出参数对缺陷检验的影响188
8.3 数字射线检查技术的最佳（几何）放大倍数189
实验5 放大倍数对检测图像空间分辨率的影响190
8.4 ISO 176362：2013标准规定的补偿规则实验191
实验6 曝光量对检测图像质量的影响191
附录193
附录A 辐射探测器介绍193
A.1 辐射探测器的物理基础193
A.2 气体探测器197
A.3 闪烁探测器199
A.4 半导体辐射探测器204
A.5 半导体探测器的辐射损伤204
附录B 采样定理说明212
B.1 采样概念212
B.2 采样定理概念212
B.3 采样定理讨论方法212
B.4 采样定理确定方法213
附录C 成像过程基本理论215
C.1 成像过程概念215
C.2 成像过程的空间域分析215
C.3 成像过程的空间频域分析218
C.4 线扩散函数、边扩散函数与不清晰度221
C.5 卷积概念与傅里叶变换的概念224
附录D 部分复习参考题答案232
参考文献234
|
|
購物車/收銀台(
0
) | 在線留言板
| 付款方式
| 聯絡我們
| 運費計算
| 幫助中心 |
加入書簽
HOME
新書上架
